ბარბარა კილოსანიძე

საქართველოს ტექნიკური უნივერსიტეტის ვლადიმერ ჭავჭანიძის სახელობის კიბერნეტიკის ინსტიტუტის ინფორმაციის ჰოლოგრაფიული ჩაწერისა და დამუშავების ლაბორატორიის ხელმძღვანელი, აკადემიური დოქტორი, მთავარი მეცნიერ თანამშრომელი. სპეციალისტი თეორიული ოპტიკის, პოლარიზაციული ჰოლოგრაფიისა და პოლარიზაციულად მგრძნობიარე მასალების დარგში. 1997 წელს დაიცვა დისერტაცია ივ. ჯავახიშვილის სახ. თბილისის სახელმწიფო უნივერსიტეტში (სპეციალობით ფიზიკა და მათემატიკა 01.04.03). 1979 წლიდან მუშაობს კიბერნეტიკის ინსტიტუტის ინფორმაციის ჰოლოგრაფიული ჩაწერისა და დამუშავების ლაბორატორიაში (ყოფილი ოპტიკური კვლევების განყოფილება).

 მონაწილეობას იღებდა პოლარიზაციული ჰოლოგრაფიის თეორიული საფუძვლების შემუშავებასა და განვითარებაში, პოლარიზაციული ჰოლოგრაფიის დამაარსებლის პროფ. შერმაზან ყაყიჩაშვილის ხელმძღვანელობით. 

ბ. კილოსანიძის და გ. კაკაურიძის მიერ შექმნილია უნიკალური პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული დიფრაქციული ელემენტი რეალურ დროში სინათლის პოლარიზაციის მდგომარეობის სრული ანალიზისათვის. კილოსანიძის და მისი ჯგუფის მიერ შექმნილია პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული გამოსახულების სტოქსის ასტროპოლარიმეტრი; შემუშავდა სახეთა ამოცნობის ახალი მეთოდი ფოტოანიზოტროპული ასლების საფუძველზე; შემუშავდა ინოვაციური პოლარიმეტრული მეთოდი სხვადასხვა კონსტრუქციებსა და დეტალებში დაძაბული მდგომარეობის განაწილების განსაზღვრისათვის; შემუშავდა ოპტიკურ საკომუნიკაციო ქსელებში ინფორმაციის არხების სივრცული კომუტაციის მეთოდი დინამიური პოლარიზაციული ჰოლოგრამების მატრიცის მეშვეობით. ბ. კილოსანიძის და გ. კაკაურიძის მიერ შექმნილია მნიშვნელოვანი დოკუმენტების, ფასიანი ქაღალდებისა და სამრეწველო პროდუქციის გაყალბებისაგან დაცვის ინოვაციური პოლარიზაციულ-ჰოლოგრაფიული სისტემა (საქართველოს პატენტი P 5395).

დღეისათვის მას აქვს გამოქვეყნებული 90-ზე მეტი სტატია რეფერირებად ჟურნალებსა და საერთაშორისო კონფერენციების მასალების კრებულებში, მონაწილეობდა საქართველოს და საერთაშორისო 15 საგრანტო პროექტის შესრულებაში, აქედან 4 პროექტის ხელმძღვანელი იყო. ბოლო 10 წლის განმავლობაში მიიღო მონაწილეობა 27 საერთაშორისო კონფერენციაში.

კილოსანიძე ამერიკის ოპტიკური საზოგადოების (OSA) და ოპტიკისა და ფოტონიკის საერთაშორისო საზოგადოების (SPIE) წევრია, ექსპერტი ჟურნალებში: JOSA, Applied Optics, Optics Letters, Optics Express.